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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速；而且因?yàn)檠b有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動(dòng)觀察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • 掃描電鏡價(jià)格
    掃描電鏡價(jià)格

    JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價(jià)格不僅是開展科研工作所不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場(chǎng)景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些...

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  • JNM-ECZS 系列 核磁共振譜儀
    JNM-ECZS 系列 核磁共振譜儀

    JNM-ECZS 系列 核磁共振譜儀不僅具有高性能，還進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)了譜儀的小型化。 高級(jí)軟件和自動(dòng)化技術(shù)，使常規(guī)測(cè)試全部實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化。超高靈敏度自動(dòng)調(diào)諧探頭包括了SuperCOOL探頭（選配件）等超低溫...

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  • JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀
    JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀

    JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀是配備先進(jìn)數(shù)字和高頻技術(shù)的核磁共振波譜儀。高度集成的STS（智能收發(fā)系統(tǒng)）采用高速、高精度數(shù)字高頻控制電路，實(shí)現(xiàn)了譜儀的進(jìn)一步微型化和高可靠性。它能夠進(jìn)行高磁場(chǎng)和固...

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  • 液氮液氦回收系統(tǒng)
    液氮液氦回收系統(tǒng)

    液氮液氦回收系統(tǒng)是一種能夠大幅抑制NMR超導(dǎo)磁體中液氦、液氮蒸發(fā)的裝置。 這有助于減少NMR設(shè)備管理中制冷劑的相關(guān)問題，例如在定期的制冷劑再填充中調(diào)整測(cè)量日程，以及擔(dān)心制冷劑供應(yīng)不穩(wěn)定等。

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  • JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
    JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀

    JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。　 利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更...

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  • 雙束加工觀察系統(tǒng)
    雙束加工觀察系統(tǒng)

    隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過程的復(fù)雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評(píng)估技術(shù)也對(duì)分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。

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  • JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)

    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜...

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  • JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
    JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀

    JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化集成FE-EPMA。

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  • CP截面樣品制備裝置
    CP截面樣品制備裝置

    IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。...

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  • IB-19530CP截面樣品制備裝置
    IB-19530CP截面樣品制備裝置

    IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場(chǎng)多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。

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  • 離子切片儀
    離子切片儀

    EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6&...

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產(chǎn)品展示

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產(chǎn)品分類

  • 透射電子顯微鏡

  • 掃描電子顯微鏡

    場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 鎢燈絲掃描電子顯微鏡

  • 制樣設(shè)備

  • 電子探針顯微分析儀

  • 多束系統(tǒng)

  • X射線熒光分析儀

  • 核磁共振譜儀

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0512-63022732

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  • 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析
    日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析

    日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 ...

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  • 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
    熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT710HR 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 清晰的可見性促進(jìn)新發(fā)現(xiàn)！目前，除了納米級(jí)的分辨率和分析性能外，數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認(rèn)為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速；而且因?yàn)檠b有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動(dòng)觀察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • ROHS金屬成分分析儀
    ROHS金屬成分分析儀

    ROHS金屬成分分析儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢...

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  • 日本電子SEM
    日本電子SEM

    JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場(chǎng)景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這...

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  • 日本電子掃描電鏡
    日本電子掃描電鏡

    JSM-IT200 InTouchScope™ 日本電子掃描電鏡是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。

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質(zhì)量保障 價(jià)格實(shí)惠 服務(wù)完善

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賽非特科學(xué)儀器（蘇州）有限公司
關(guān)于賽非特賽非特公司主要是一家專門從事進(jìn)口儀器設(shè)備銷售公司。主要服務(wù)于華東，華中，華南地區(qū)形成了一個(gè)覆蓋中國沿海地區(qū)，并延伸至內(nèi)地的銷售網(wǎng)絡(luò)。我們服務(wù)項(xiàng)目包含儀器銷售，維修，安裝，儀器校準(zhǔn)，保養(yǎng)等，是一加集進(jìn)口，銷售，安裝，服務(wù)一體的進(jìn)口儀器銷售公司，公司秉承“技術(shù)至上，服務(wù)進(jìn)取”的經(jīng)營理念，堅(jiān)持“客戶第一”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎廣大客戶惠顧！賽非特公司主要合作品牌有：賽默飛世爾THERMOFISHER,安捷倫AGILENT,島津SHIMADZU,日本電子JEOL,牛津儀器Oxford,日本尼康NIKON等品牌產(chǎn)品。主要銷售產(chǎn)品為各式液相色譜，氣相色譜，光譜儀，質(zhì)譜儀，光學(xué)顯微鏡，掃描電鏡，X光檢查機(jī)，x光熒光分析儀等相關(guān)儀器。賽非特客戶群為電子行業(yè)，鋼鐵行業(yè)，礦產(chǎn)，生物，醫(yī)療，材料等各種領(lǐng)域。為客戶提供優(yōu)良的解決方案及優(yōu)秀的服務(wù)，用自身技術(shù)協(xié)助解決用戶的現(xiàn)實(shí)問題。歡迎廣大客戶來電指導(dǎo)，共同學(xué)習(xí)探討。
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技術(shù)文章
  • ROHS金屬成分分析儀來襲，一鍵快速檢測(cè)，讓環(huán)保合規(guī)更輕松！
    ROHS指令作為歐盟針對(duì)電子產(chǎn)品中有害物質(zhì)限制的重要法規(guī)，對(duì)于全球電子產(chǎn)品制造商來說，都是必須嚴(yán)格遵守的標(biāo)準(zhǔn)。然而，如何確保產(chǎn)品中的金屬成分符合ROHS要求，卻一直是許多企業(yè)面臨的難題。如今，隨著ROHS金屬成分分析儀的問世，這一問題得到了有效的解決。這款分析儀以其一鍵快速檢測(cè)的功能，極大地簡化了金屬成分的檢測(cè)過程。在過去，企業(yè)可能需要將樣品送至專業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)，等待漫長的時(shí)間才能得到檢測(cè)結(jié)果。而現(xiàn)在，只需將樣品放入分析儀中，輕輕一點(diǎn)，即可在短時(shí)間內(nèi)獲得準(zhǔn)確的金屬成分?jǐn)?shù)據(jù)。這種...
    2025-3-10
  • 揭秘電子掃描電鏡：工作原理、成像技術(shù)及應(yīng)用領(lǐng)域
    電子掃描電鏡（SEM），全稱掃描電子顯微鏡，是一種先進(jìn)的微觀分析工具。其工作原理基于電子束與樣品表面的相互作用。當(dāng)高能電子從電子槍發(fā)射，經(jīng)過聚焦后形成細(xì)小的電子束，該電子束在樣品表面按順序逐行掃描。在掃描過程中，電子束與樣品相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號(hào)。這些信號(hào)被相應(yīng)的探測(cè)器收集，并轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，最終經(jīng)過處理后形成高分辨率的圖像。SEM的成像技術(shù)主要依賴于二次電子和背散射電子。二次電子主要用于顯示樣品的表面形貌，成像效果具有三維立體感，能夠清晰呈現(xiàn)樣品的微小結(jié)構(gòu)...
    2025-3-4
  • 日本電子掃描電鏡的樣品制備技巧與注意事項(xiàng)
    日本電子掃描電鏡作為高精度科研儀器，對(duì)樣品制備的要求高。以下是樣品制備的技巧與注意事項(xiàng)：技巧方面：選擇合適的固定方法：根據(jù)樣品的性質(zhì)和形態(tài)，選擇合適的固定方法，如導(dǎo)電膠帶粘貼、機(jī)械固定等，確保樣品在觀察過程中不會(huì)移動(dòng)或變形。注意導(dǎo)電處理：對(duì)于不導(dǎo)電或?qū)щ娦圆畹臉悠罚M(jìn)行導(dǎo)電處理，如噴鍍導(dǎo)電膜，以提高樣品的導(dǎo)電性，避免荷電效應(yīng)影響圖像質(zhì)量。保持樣品干燥：樣品需干燥無水、無易揮發(fā)溶劑，否則在真空環(huán)境中揮發(fā)出來的水蒸氣或溶劑會(huì)引起燈絲故障，影響儀器性能。注意事項(xiàng)：避免污染：樣品在...
    2025-2-25
  • SEM掃描電鏡：原理、操作與樣品制備全攻略
    SEM（掃描電鏡）是一種利用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像的技術(shù)，其工作原理類似于閉路電視系統(tǒng)。電子束由三極電子槍發(fā)射，經(jīng)過加速電壓和多個(gè)電子透鏡聚焦后，按順序逐行掃描樣品表面，激發(fā)樣品產(chǎn)生二次電子、背散射電子等物理信號(hào)。這些信號(hào)被收集器接收并放大后，送到顯像管上形成與樣品表面特征相對(duì)應(yīng)的畫面。在操作SEM時(shí)，首先需要確保設(shè)備及其附屬設(shè)備（如真空系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)）處于正常工作狀態(tài)，并進(jìn)行預(yù)熱。然后，將準(zhǔn)備好的樣品放置在樣品臺(tái)上，關(guān)閉真空腔并啟動(dòng)真空泵進(jìn)行抽真空。接下來，根據(jù)樣...
    2025-1-17
  • 電子顯微鏡在半導(dǎo)體工業(yè)中的應(yīng)用與挑戰(zhàn)
    電子顯微鏡作為半導(dǎo)體工業(yè)中的工具，發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。其高分辨率成像能力使得研究人員能夠深入到納米級(jí)別，精確檢測(cè)和分析半導(dǎo)體材料中的各種微觀結(jié)構(gòu)和缺陷。在半導(dǎo)體制造過程中，電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于質(zhì)量檢測(cè)、結(jié)構(gòu)分析、失效分析和能譜分析等環(huán)節(jié)。通過電子顯微鏡，研究人員可以觀察到半導(dǎo)體芯片和封裝材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，檢測(cè)出其中的缺陷、裂紋、氣泡等微觀結(jié)構(gòu)問題，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。同時(shí)，電子顯微鏡還可以對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行元素分析，確定材料中的元素含量和化學(xué)狀態(tài)，為材料研發(fā)和工藝控制提供...
    2024-12-2
  • TEM斷層掃描系統(tǒng)為材料的性能提升與失效分析提供了寶貴的依據(jù)
    TEM斷層掃描系統(tǒng)是結(jié)合了透射電子顯微鏡的高分辨率成像能力與斷層掃描技術(shù)的三維重構(gòu)能力。這一組合使得科學(xué)家們能夠以精度，對(duì)微小樣品進(jìn)行逐層掃描，進(jìn)而構(gòu)建出其在三維空間中的完整結(jié)構(gòu)。這一技術(shù)的出現(xiàn)，無疑為材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的研究開辟了新的道路。在材料科學(xué)領(lǐng)域，TEM斷層掃描系統(tǒng)為納米材料的研發(fā)提供了強(qiáng)有力的支持。通過精確測(cè)量納米顆粒的形狀、尺寸以及分布，科學(xué)家們能夠更深入地理解材料的性能與結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系，從而指導(dǎo)新材料的合成與優(yōu)化。此外，該技術(shù)還能揭示材料在微觀尺...
    2024-11-15
  • 探索微觀世界：SEM掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用
    SEM掃描電鏡，即掃描電子顯微鏡，作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具，在材料科學(xué)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。其高分辨率、強(qiáng)景深和能譜分析功能，使其成為研究材料微觀結(jié)構(gòu)和性能的工具。在材料科學(xué)研究中，SEM掃描電鏡可用于觀察材料的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒大小和形狀等。通過SEM的高分辨率圖像，研究人員能夠清晰地看到材料表面的微小結(jié)構(gòu)，如紋理、缺陷和裂紋等，這對(duì)于理解材料的力學(xué)性能和化學(xué)性能至關(guān)重要。此外，SEM掃描電鏡還可以進(jìn)行能譜分析，幫助識(shí)別材料的化學(xué)成分和分布情況。這對(duì)于研究材料的成分、...
    2024-11-7
  • ROHS金屬成分分析儀在電子產(chǎn)品質(zhì)量控制中的關(guān)鍵角色
    在當(dāng)今科技日新月異的時(shí)代，電子產(chǎn)品已成為我們?nèi)粘Ｉ钪械囊徊糠帧Ｈ欢S著電子產(chǎn)品使用的普及，其安全性和環(huán)保性也日益受到關(guān)注。ROHS（限制使用某些有害物質(zhì)）指令的出臺(tái)，正是為了規(guī)范電子產(chǎn)品中有害物質(zhì)的含量，確保消費(fèi)者的健康和安全。在這一背景下，ROHS金屬成分分析儀在電子產(chǎn)品質(zhì)量控制中扮演著至關(guān)重要的角色。ROHS金屬成分分析儀是一種專門用于檢測(cè)電子產(chǎn)品中金屬成分及其有害物質(zhì)含量的高精度儀器。它能夠快速、準(zhǔn)確地分析出電子產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚等有害物...
    2024-10-21
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